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光耦老化（光耦老化检测指标）

发布时间：2023-05-23
阅读量：40

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可控硅光耦？

1、晶闸管，又称可控硅（单向scr、双向bcr）是一种4层的（pnpn）三端器件。在电子技术和工业控制中，被派作整流和电子开关等用场。在这里，介绍它们的基本特性和几种典型应用电路。锁存器电路。

2、MOC3083当然是可控硅光耦了，它内部的发光二极管端就是可以由电路控制的，如用单片机控制。而内部光敏一端就是一个过零触发的双向可控硅，可以控制一个外部的双向可控硅，而外部的可控硅就可控制交流电路了。

3、由于光耦合器输入输出间互相隔离，电信号传输具有单向性等特点，因而具有良好的电绝缘能力和抗干扰能力。又由于光耦合器的输入端属于电流型工作的低阻元件。

4、当光耦二极管有电流流过时，光耦的可控硅导通，当R3上的电压达到外可控硅导通电压时，外可控硅导通。电阻R2是分压电阻，防止光耦的可控硅导通时，电压过高，把外可控硅的控制端打坏。

5、是图画错了？如果是这样接线的话，这个双向可控硅是长期导通的。

光耦三极管如何老化?

1、心→功率老化。筛选程序可根据具体情况作相应变化，但其主要项目有：高温储存→温度冲击→跌落或离②条件及要求：储存时间：A级48h，B级96h。

2、弱爆了的话就驱动不了受光侧的光敏三极管。老化概率符合泊松分布，每个光耦厂家都应该有自己的老化率计算公式。只要记住：电流大老化快，但是光强强；电流小老化慢，但是光强弱。具体怎么能够让寿命最长需要平衡的。

3、一般光耦的线性比较差，作要求较高的信号放大时需要用专门的线性光耦或者添加专门的补偿电路。光敏三极管和普通三极管相似，也有电流放大作用，只是它的集电极电流不只是受基极电路和电流控制，同时也受光辐射的控制。

4、直观法：用眼观察光耦的外观有无破损 光耦的输入端可以看做一个发光二极管来计算。限流20mA。输入电压减去二极管压降再除以20mA就是R1的阻值。

5、①、关于此问题主要是因为管子各项指标参数可能达不到电路的设计要求而损坏比如：管子的反向击穿电压参数、饱和压降参数、以及管子本身性能下降、在有就是电路中的阻容件参数改变等等原因，极易损坏三极管的。

2V-3V的电压能驱动PC817光电耦合器吗?

1、我看了一下，输入端大概有2V的压降，所以理论上是你采用的电压没有问题的。电流的大小，最大不能超过50mA，实际应用的话一般推荐5mA，但是据我所知，光耦在1mA也可以应用，看电路情况用吧，推荐5mA。

2、输入侧就是个发光二极管，属电流控制器件，需要限制的是正向电流，不能直接加正向电压。正向工作电压可在输入特性曲线查出，通常在4V左右。

3、PC817的输入侧是发光二极管负载，导通电压大约1-3V，应该串联一只电阻接入，并且控制驱动电流在1-10mA之间。

4、一般电流控制在5~20mA，最大50mA。用5V电源驱动，可以串联电阻R=5/0.01=500R，所以你可以选择电阻200R~1K，建议取值330~510R。

5、同理：只要在输入端加一定的正向电压，输出端就应能导通，反之，该器件应为损坏。

6、PC817是一个线性光耦。线性光电耦合器是一种新型的光电隔离器件，能够传输连续变化的模拟电压或电流信号，这样随着输入信号的强弱变化会产生相应的光信号，从而使光敏晶体管的导通程度也不同，输出的电压或电流也随之不同。

点钞机自检码盘光耦故障解决方法有哪些?

抓假：我们可以直接用假币去试机，来测试点钞机的抓水平。但是这点有点不太现实，因为我们消费者不可能有太多的假币，同时，假币的种类也很多，据我们掌握的就有150多种版本。

换新的光耦。点钞机是一种自动清点钞票数目的机电一体化装置，一般带有伪钞识别功能，集计数和辨伪钞票的机器。钞机是由捻钞轮、压钞轮、接钞轮、机架、电机、变压器、电子电路等多部分组成。

那个就是码盘光耦，码盘光耦上有间隙，间隙规律。如果中间有不规律的，就是坏了，在码盘光耦前面，有一个凹字形的传感器卡住码盘光耦，很有可能是它坏了，造成点钞机开机无法自检到码盘光耦。

当开机出现CE1时表示光检故障，检查机器是否摆在了光线过强的地方，将机器换个位置避开强光。当开机出现CE2或机器没转动时表示码盘检测故障，首先检查一下码盘装置是否有积尘，用毛刷进行清理灰尘。

关键词：光敏三极管 双向可控硅 可控硅光耦 分压电阻 发光二极管 可控硅的 普通三极管 线性光耦 二极管压降 光耦 可控硅 码盘光耦 电阻

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