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分别测量两边的阻值；一边正反两面都无穷大，这边接电源初极，另一边正测有6-8K阻值，则说明光耦是好的。
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。3．光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。
指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。光电效应判断法。仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路。
方法2：光耦PC817的判断方法，先用万用表二极管档检测出光耦的发光端，再在发光端加以五伏左右的电压，判断三极管端好坏。
用数字万用表如何测光耦的好坏方法有两个：断开输入端电源，用R×1k档测2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，4脚间电阻应为无限大。
用另外一个电表来测量“3”“4”端的电阻，断开或者接通输入端，当输出端的电阻有大幅度的变化时，说明光耦是好的。反之，则说明是坏的。
回答如下：817c是光耦，对输入、输出电信号起隔离作用，光耦合器一般由三部分组成：光的发射、光的接收及信号放大。
首先取光耦用万用表二极管档测量输入端，交换红黑表笔。如果正向导通有压降，反向截止。那么说明，前级的发光二极管是正常的。在输入端接入低电压6V（以4N35为例，具体输入电压以数据手册为准）串入保护电阻。
在对被测数据大小不明时，应先将量程开关，置于最大值，而后由大量程往小量程档处切换，使仪表指针指示在满刻度的1/2以上处即可。
pc817是光耦，单独用一个万用表只能大致判断阻值是否在正常范围，排除击穿烧毁的情况，要确定的测好坏要根据817引脚功能搭个小板子，根据一边变化另一边是否变化来判断好坏。
判断光耦的好坏，可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
分别测量两边的阻值；一边正反两面都无穷大，这边接电源初极，另一边正测有6-8K阻值，则说明光耦是好的。
以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
电阻的规格有很多的，具体根据需要选择使用，大致有以下分类：按材质分有水泥电阻，陶瓷电阻，金属薄膜电阻……； 按封装分插件，还有贴片。
电阻外部尺寸。电阻器的规格有0805规格，0603规格，是指电阻外部尺寸，定值电阻从出厂即为固定阻值，具体参数可以在电阻本身看到。
贴片电阻最大功率是1W，封装形式是2512。
规格一般是指其外部尺寸，问例如0805规格，答0603规格。7R或者7K这个是电阻的标称阻值，回R=欧姆=Ω，7R=7R=7欧姆=7Ω，7K(R被省略了答)=7kR=4700欧姆=4700Ω。
1、分别测量两边的阻值；一边正反两面都无穷大，这边接电源初极，另一边正测有6-8K阻值，则说明光耦是好的。
2、一般通用型光耦hFE值为一百至几百，若显示值为零或溢出为∞，则表明三极管短路或开路，已损坏。3．光耦传输特性的测量：测试具体接线见下图，将数字万用表开关拨至二极管挡位，黑笔接发射极，红笔接集电极，⑥脚基极悬空。
3、比较法。拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。数字万用表检测法。
4、检测光耦的好坏：可以在板带电的情况下，测输入驱动波形和输出驱动波形：如果仅有输入没有输出，那光耦肯定有问题；如果输入和输出波形都有，那就说明光耦没问题。这时可以查电源和驱动信号是否正常等等。
5、用数字万用表如何测光耦的好坏方法有两个：断开输入端电源，用R×1k档测2脚电阻，正向电阻为几百欧，反向电阻几十千欧，4脚间电阻应为无限大。
1、用万能表二极管档使光耦发光管一侧导通，用另一个万能表二极管档红黑表笔分别接光耦输出两极，有一次有读数的话，光耦是好的，红黑表笔分别接光耦输出两极，都没有读数说明没有击穿。
2、用一块万用表R100档测光耦的4，5脚光敏三极管正反向电阻应为无穷大，如果不是光耦就是损坏或性能不好。
3、以往用万用表测光耦时，只分别检测判断发光二极管和受光三极管的好坏，对光耦的传输性能未进行判断。这里以光耦4N25为例，介绍一种测量光耦传输特性的方法。
4、光耦怎么测好坏：怎么检测光耦的好坏？ 用两个万用表就可以测了。光电耦合器由发光二极管和受光三极管封装组成。
5、将表拨至测量电阻档（200k），两只表笔连接光耦两端，然后在光线比较慢的地方，用LED光源照射光耦，此时，观察数字万用表，数字如果变化了，说明光耦就是好的，数字不变的，就是坏的。
6、用电池串一1K欧可变电阻，给光耦的输入端接入正向偏置。 同时，用万用表的电阻档测量光耦的输出端的变化。
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