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过零可控硅(过零可控硅光耦)

发布时间:2023-06-12
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双向可控硅过零的时候到底是通的还是断的?控制的是通的时间还是断的时间...

可控硅靠电流过零而关断(除可关断可控硅外)。双向可控硅触发导通后,电源电压过零时,可控硅关断。当有外加电压前提下,再触发,可控硅就再次导通。

两个管子的电流剧增,使饱和导通。由于BG1和BG2所构成的正反馈作用,所以一旦导通后,即使控制极G的电流消失了,仍然能够维持导通状态,由于触发信号只起触发作用,没有关断功能,所以这种是不可关断的。

对,你讲的不错,是这样。在过零信号检测到后到下一个过零信号来之前任意时间触发都可以导通,但导通角大小会发生改变,灯的亮度就不同。

双向可控硅的管断的方法:等到交流电经过零点的时候才关掉,可以做个过零检测,快过零的时候之前关掉它。

这里的问题是电机。可控硅需要电流过零才能关闭。但电机电流与电压并不同相。所以关断的情况并不是你想的那样。

什么是可控硅的移相触发什么是过零触发

1、如图,如果是在刚刚过红色箭头处触发,则为过零触发,触发信号起始点之后的几乎整个半波是全导通的状态。

2、过零触发是在零电压或零电流关断,主要是为了降低功耗,延长使用寿命.移相触发是通过调速电阻值来改变电容的充放电时间再来改变单结晶管的振荡频率,实际改变控制可控硅的触发角。就是触发控制方式的不一样。

3、移相触发是可控硅控制的一种方式,其是通过控制可控硅的导通角大小来控制可控硅的导能量,从而改变负载上所加的功率。特点控制波动小,使输出电流、电压平滑升降。可控硅触发有两种方式,一过零触发,二移相触发。

过零检测可控硅调光,为什么要过零检测呢?可不可以就用pwm控制,改变高低...

可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。

检测就用运放构成比较器比较的好;MOC3061中的过零检测主要用于改变双向可控硅G极上触发脉冲的极性,双向可控硅 导通方向就随着极性的变化而改变,从 而能够控制交流电负载。

因为可控硅属于非自关断器件。其触发导通后仍然保持导通(虽然触发信号已经消失),关断的条件是通过其电流接近于零。过零光耦,其内部含过零检测,当有输入时,只有发生过零时刻才输出。

如果是直接靠占空比来调压,应该用高频,且驱动管是开关型的场效应管或igbt等。如果利用可控硅来调压,若想得到比较稳定的电压必须加上过零检测,注意削波后的谐波对采样的影响。

过零检测的目的是为了减小对电网的干扰。MOC3021是即时触发的,不带过零检测,使用这种光耦触发可控硅,在开启的瞬间,电流冲击会在电网上形成一个负跳变,幅度由电流的大小决定。这种跳变多了,电网自然就不干净了。

使过零检测不受滤波的影响。说到这里你完全明白二极管的作用了吧?如果没有二极管的隔离,那么过零检测电路的波形就被滤波成平波了,那过零检测电路就检测不到电压的过零点了。

请问为什么可控硅需要过零检测?

可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。

检测就用运放构成比较器比较的好;MOC3061中的过零检测主要用于改变双向可控硅G极上触发脉冲的极性,双向可控硅 导通方向就随着极性的变化而改变,从 而能够控制交流电负载。

过零检测的目的是为了减小对电网的干扰。MOC3021是即时触发的,不带过零检测,使用这种光耦触发可控硅,在开启的瞬间,电流冲击会在电网上形成一个负跳变,幅度由电流的大小决定。这种跳变多了,电网自然就不干净了。

可控硅外加触发信号,双向可控硅导通。但是在220V交流电过零点时,且无外加触发信号时,会自动关断。若不在零点触发让可控硅导通,在其它点时触发会有电压,电流冲击的考虑。

在使用隔离电源控制可控硅时,通常需要考虑过零。过零是指交流电压信号通过0的瞬间。在交流电路中,电压会周期性地从正值到达负值,而过零点是电压变化的一个重要时刻。

什么是可控硅的移相触发,什么是过零触发

如图,如果是在刚刚过红色箭头处触发,则为过零触发,触发信号起始点之后的几乎整个半波是全导通的状态。

过零触发是在零电压或零电流关断,主要是为了降低功耗,延长使用寿命.移相触发是通过调速电阻值来改变电容的充放电时间再来改变单结晶管的振荡频率,实际改变控制可控硅的触发角。就是触发控制方式的不一样。

可控硅触发有两种方式,一过零触发,二移相触发。可控硅,是可控硅整流元件的简称,是一种具有三个PN结的四层结构的大功率半导体器件,亦称为晶闸管。具有体积小、结构相对简单、功能强等特点,是比较常用的半导体器件之一。

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