四探针电阻仪（四探针电阻仪open时电流在最大档）

发布时间：2023-06-23

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是侦探针，工作原理是他的旋转里面有一个齿轮卡住一个圆圈，所以它只能卡住一个圆球，它这个弹球才可以进行，他用这个探针才可以达到一定的测试高度，所以他手持式的试探针工作原理一般都是齿轮式工作原理。

四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

四探针法测电阻率可以用三琦高温四探针测量系统测试。四探针法测电阻率其实从专业角度来说，就是使用三琦高温四探针测量系统来测量。该系统包括高温测试平台、高温四探针夹具、阻率测试仪和高温电阻率测量软件。

举例，高温四探针电阻率测试仪可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻，主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

目前国内生产的电阻率测量仪器无论是专用的还是多用的，也无论是带微机的还是不带微机的均能达到上述要求，并且当输入K值后，还可直读ρs。（二）电阻率法的装备电阻率法的主要装备有三种，即电源、电极和导线。

四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

四探针电阻仪（四探针电阻仪open时电流在最大档）

油体积电阻率测定仪按DL4291《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据，根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。

用四探针电阻仪可以测导电薄膜的方块电阻，如果知道薄膜厚度就可得导电薄膜的电阻率。

使用说明书广州市昆德科技有限公司概述KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。

四探针电阻测试仪：用于测量物质的电阻主机采用世界领先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。

HRMS-800高温四探针电阻率测试仪就是，主要测量的参数就是半导体材料的电阻、电阻率、方块电阻等。

四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。

通过采用四探针法取代二探针法，尽管电流所走的路径是一样的，但由于消除掉了寄生压降，使得测量变得精确了。四探针法在Lord Kelvin使用之后，变得十分普及，命名为四探针法。

油体积电阻率测定仪按DL4291《绝缘油体积电阻率测定法》的电力行业标准为依据，根据有源电桥的原理研制成功的一种新型电阻率测定专用仪器。

四探针法测方块电阻的原理四探针法是一种简便的测量电阻率的方法。对于一般的线性材料，我们常常用电阻来表征某一段传输电流的能力，其满足以下关系式：(式3-1)其中ρ、l和s分别表示材料本身的电阻率、长度和横截面积。