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1、开机后，我们先不管显示器是否能正常的亮或显示，我们先再次按主机上的重启键，然后我们按一下键中的“NumLock”键，也就是台式键盘右边的数字开关切换键。
2、排除这种故障的方法是改变扇形齿轮和拉杆的夹角。指针在前半程走得快，在后半程走得慢，调小拉杆与扇形齿轮得夹角。指针在前半程走得慢，在后半程走得快，调大拉杆与扇形齿轮得夹角。
3、耐压试验机，在理论上更像是一个电势源，只提供电压，无法提供能量。或者，能提供的能量很小，就像电蚊拍。只要被测试物体的绝缘没有被击穿，测试电压就可以升上去。一旦被测物绝缘被击穿，电流回路就产生了。电压立马下跌。
4、在升压或耐压试验过程中，如发现下列不正常情况：（1）电压、电流表指针摆动很大（2）被试品发出不正常响声（3）发现绝缘有烧焦或冒烟现象，应立即降压，切断电源，停止试验并查明原因。
5、经过与公司技术部门的沟通并实际模拟实验后得出结论，我们认为：变频串联谐振耐压试验装置升压后电压跌落并不是仪器故障，分析起来主要有以下一个原因：试品放电或击穿。
6、自行接线，当线控 5 脚闭合时，仪器“启动”；2 脚闭合时，仪器“复位”。（注：线控引线长度不可超过 2m，控制信号为无源触点。
1、这个话一般就是说它的生产日期，然后第几个生产的一般是地多少生产，还有他的各种型号各种功能。
2、根据经验， 常见的光耦只要接脚符合，一般都可直接代用， 接脚不符的也可通过短线连接相应脚使用。
3、PC817光耦 MOC3021光耦 TLP621光耦 EL817光耦 H11AA1光耦这些光耦具有类似的特性和功能，可以在大多数应用中替代PC851光耦。但是，由于每个应用的要求不同，建议在替换之前进行适当的测试和验证。
moc3062与moc3081都是可控硅型光耦，基本一样，区别就是负载的大小。moc3063的负载能力是100mA； moc3081是15mA；不可以用3081代替3062。
用mOc3022光耦二极管。moc3021光耦二极管可以用mOc3022光耦二极管代换，它俩的输入电流相近，功率是一样的，参数相同，可以代换。
a. 请检查可控硅是否损坏，若已经损坏，请更换同规格可控硅；b. 请检查光耦 3061 是否损坏，若已经损坏，请更换 3061。
moc3061是可控硅输出光电耦合器，过零触发，控制可控硅触发输出专用电路。817是光耦，817不能直接代换moc3061。
转换。以光为媒介把输入端信号耦合到输出端的光电耦合器，由于它具有体积小、寿命长、无触点，抗干扰能力强，输出和输入之间绝缘，单向传输信号等优点，在数字电路上获得广泛的应用。光耦合器可分为非线性光耦和线性光耦。
1、加一个反馈电路，把输出的电压与调节电位器的值进行比较放大，再把误差值送进调节器。具体实现的电路你自己再想吧。
2、可以通过单片机的方波脉冲 控制可控硅导通角 从而控制电流大小。
3、在光耦初级上加一个可调电阻是可以调节电压的一种常见方法，该电阻主要用于调节输入电压的大小。电阻的取值会影响电压的大小，通过调整电阻的阻值，可以控制输出的电压大小，从而满足不同的应用需求。
4、用一个大功率小阻值的电阻在负极输出前面取电压样，与一个基准电压进行比较，比较的输出接到光耦上（注意要用二极管进行隔离一下）。这样电流环就能和电压环同时反馈给初级进行调整啦。
1、本电路有2种触发方式，一种利用RC充放电实现的控制，这种控制是使可控硅工作在3象限。另外一种是利用MOC3021实现控制，使可控硅工作在3象限。
2、单片机触发可控硅半波和全波控制如下。单片机控制可控硅的触发。原理结构图单片机控制可控硅触发电路中。选用MCS96系列单片机中的8098型号。通过单片机程序控制可控硅的触发角，达到触发与电源同步的目的。
3、可控硅必须检测过零信号。只有零点以后触发，才会有效。而且在下一个零点到来的时候，可控硅会自动关闭。你这个程序里面只有一句P=1，没有P=0，那么这个端口一直开启，没有关闭。负载将一直投入。不可能关闭。
4、可控硅触发一般使用MOC3021，相关手册上有典型电路，CPU端接一个GPIO就可以。闭环控制时过零检测不需要很精确，一般用一个双向光耦就足够，光耦输入接交流电输入，输出接CPU中断，用史密特整形一下输出信号最好。
5、一，如果用定时器1 ，3角接3061光耦来触发可控硅，负载灯泡时亮时暗。（定时器0用的常数值既把h换为100）不用定时器1灯就不时亮时暗。
6、必须使用P2（或P3） 外部中断INT0脚。设置INT0下降沿中断，中断响应后启动定时器T0（或T1）计时，定时器溢出中断时，对应脚输出高电平（根据你的电路决定是高电平还是低电平），触发可控硅导通。
关键词：851光耦 moc3021光耦 3022光耦 3021光耦 二极管可以 17光耦 可控硅 817光耦 触发可控硅 光耦
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