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光耦封测厂（光耦的封装形式）

发布时间：2023-07-15
阅读量：29

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晶体管参数测试仪系统&可测MOSFET,IGBT,BJT,Diode……

DCT2000晶体管参数测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on))。

⑤根据需要显示的醢线和需要测试的参数，选择相应的作用开关以及合适的量程，即可进行有关图形显示和参数测定。晶体管图示测试系统在运用的过程中：a.测试时逐渐加大峰值电压，即可得到输出特性曲线。

晶体管电参数测量是晶体管电参数包括直流参数、器件参数、频率参数、网络参数、特殊参数和极限参数。测量晶体管直流参数的直观方法是使用晶体管特性曲线图示仪。

个。晶体管测试仪t7是电子爱好者的测试神器，共有经典版和升级版2个版本。其中的升级版可以测试晶体三极管的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性；测试各种反向饱和电流和击穿电压。

关键词：晶体三极管 光耦 电子元器件

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