双光耦过零（光耦过零检测电路原理）

发布时间：2023-07-21

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第二。你触发一次，只能保证交流接通半个周期，至交流电压再次过零的时候会关断。所以你必须施加恒定的触发信号或者保证每10毫秒同步地触发MOC3041。---也就是说，这个MOC3041，不具备像寄存器或者D触发器那样的保持功能。

因为可控硅属于非自关断器件。其触发导通后仍然保持导通（虽然触发信号已经消失），关断的条件是通过其电流接近于零。过零光耦，其内部含过零检测，当有输入时，只有发生过零时刻才输出。

是集成了光耦＋双向可控硅＋过零驱动电路的一个IC，你在驱动端（此IC的发光管端）给了一个驱动信号，IC也要等市电的下一个过零点到来时才开启导通双向可控硅。这样可以避免导通瞬间的大电流对电网造成的干扰。

MOC3041最大能承受1A的峰值输出电流，驱动BTA16是没有任何问题的，为了保证安全，建议给光耦的输出串联一个300欧姆左右的电阻到可控硅控制极。

1、这个检测电路是检测信号送入双复合三极管导通，使光电耦合的发光管导通发光，光耦输出导通得到检测信号。

2、图六光电耦合器接线原理对于线性类比电路通道，要求光电耦合器必须具有能够进行线性变换和传输的特性，或选择对管，采用互补电路以提高线性度，或用V／F变换后再用数位光耦进行隔离。

3、光耦，即光电耦合器，结构：一般4脚的光耦，输入端跨接的是一只led，输出端跨接的是一只光敏三级管，led和光敏三级管是被密封在一个封装中的。

双光耦过零（光耦过零检测电路原理）

1、这个图中并没有MOC3023，而用MOC3023时，它自带过零检测电路，并不需要另外的检测电路，用了也不起过零检测的作用。这是个仿真图，就仿真图而言，是可以输出一个与交流电同步的过零脉冲信号。

2、MOC301MOC302MOC302MOC302MOC3052 都是不带过零触发的光耦。

3、R21电阻的值太大了。3V的电压，用300殴才行。那控制端KKG是什么，是单片机的引脚吗，要考虑能否驱动光耦的发光二极管，电流需要10mA以上呢。如果还不能动作，就还要增加驱动电流。

1、一般用于通断控制。显然是不能用来移相控制导通角的。过零检测的光耦是控制不了导通角的。即有前置电流If，输出端也要等到交流过零完成后立即导通，无法控制什么时候导通。

2、可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。

3、此外，过零检测电路的主要作用还有：可以检测交流电的周期时间长短；配合晶闸管，从过零处开始控制晶闸管导通角的大小，控制电机的运行速度；可用来控制功率输出的大小；还可用来校准同步功能。

4、一般有可控硅的地方，才会用到，过零检测有个很重要的作用，就是同步功能，比如灯具，你有100个，有这样闪，那样闪的，通过过零检测，可以让他们同时亮灭，闪亮，如果没有这个检测功能，到时闪的会乱。

5、过零检测的作用可以理解为给主芯片提供一个标准，这个标准的起点是零电压，可控硅导通角的大小就是依据这个标准。