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1、光耦器件的输入、输出侧在电路中串有限流电阻,在上电检测中,可用减小(并联)电阻和加大电阻的方法(将其开路)等方法,配合输出侧的电压检测,判断光耦器件的好坏。
2、判断光耦的好坏,可在路测量其内部二极管和三极管的正反向电阻来确定。更可靠的检测方法是以下三种。
3、检测光耦的好坏,可以在板带电的情况下,测输入驱动波形和输出驱动波形:如果仅有输入没有输出,那光耦肯定有问题;如果输入和输出波形都有,那就说明光耦没问题。这时可以查电源和驱动信号是否正常等等。
4、指针向右偏转角度越大,说明光耦的光电转换效率越高,即传输比越高,反之越低;若表针不动,则说明光耦已损坏。光电效应判断法。仍以EL817光耦合器的检测为例,检测电路。
5、用数字万用表如何测光耦的好坏方法有两个:断开输入端电源,用R×1k档测2脚电阻,正向电阻为几百欧,反向电阻几十千欧,4脚间电阻应为无限大。
6、分别测量两边的阻值;一边正反两面都无穷大,这边接电源初极,另一边正测有6-8K阻值,则说明光耦是好的。
1、光耦TLP350与TLP351不能互换,TL315可以代替TLP350,但TLP350代替TLP351则需要考虑需要替换的条件。
2、入出间隔离电阻RIO:半导体光耦合器输入端和输出端之间的绝缘电阻值。1入出间隔离电压VIO:光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值.。
3、最大工作温度: TLP350最大工作温度为70℃,而TLP350H最大工作温度为110℃。 隔离电压: TLP 350隔离电压为3750Vrms(最小),而T LP 35 0 H 的隔离电压为5000Vrms(最小)。
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正向工作电压可在输入特性曲线查出,通常在4V左右。
正向耐压指在设定的条件下,光电耦合器在正极电压升高到一定值时,仍能保持正常的工作状态而不产生击穿或损坏的能力。
入出间隔离电压VIO:光耦合器输入端和输出端之间绝缘耐压值。
光耦的主要性能特点如下:①隔离性能好,输入端与输出端完全实现了电隔离,其绝缘电阻RISO一般均能达到1010Ω以上,绝缘耐压VISO在低压时都可满足使用要求,高耐压一般能超过lkV,有的可达10kV以上。
光耦二极管端的方向耐压为:正向耐压为二极管的导通电压0.7V,反向耐压根据型号的不同,在几十伏到几千伏不等。光耦合器亦称光电隔离器或光电耦合器,简称光耦。
根据市场上常见的光耦规格,其耐压值一般在几百伏至数千伏之间,其中最高可达到数千伏的等级,具体取决于工作电压、绝缘材料以及结构设计等因素。
正向耐压指在设定的条件下,光电耦合器在正极电压升高到一定值时,仍能保持正常的工作状态而不产生击穿或损坏的能力。
同第一类光耦器件一样,对输入电压/电流有极性要求。当形成正向电流通路时,输出侧两引脚呈现通路状态,正向电流小于一定值或承受一定反向电压时,输出侧两引脚之间为开路状态。
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