可控硅检测方法（可控硅检测方法有哪些）

发布时间：2023-07-28

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测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

正、反向电阻值相等或差异极小。说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结，有明显的正、反向电阻的差异。这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。

单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A极（对单向可控硅）也可能是TT1或TG极（对双向可控硅）。

可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

单向可控硅，使用指针表的R×1档位，先找出两个正反向都不通的脚，剩余的那支脚必然是控制极。将指针万能表的红笔和黑笔，接两个不通的级，将控制极与接黑笔的脚短路指针将转动一定的角度示数。

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可控硅检测方法（可控硅检测方法有哪些）

1、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

2、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

3、检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。