电子元器件检测设备（电子元器件检测及测试方法）

发布时间：2023-07-30

阅读量：24

本文目录一览：

万用表测电路板上的元器件步骤：我们所使用的万用表，不管是在测电压还是电流、电阻、都是公用的一个表头。在需要测量电阻时，我们首先要调到欧姆档。一般有：×1，×10，×100，×1000几个挡位。

如果坏的话最常见的也是击穿损坏，可以用万用表测量一下芯片的供电端对地的电阻或电压，一般如果在几十欧姆之内或供电电压比正常值低，大部分可以视为击穿损坏了，可以断开供电端，单独测量一下供电是否正常。

数字万用表只能测量电流、电压、电阻，并不能判断电器的好坏。在电子器件发生损坏时，一般会发生线路的故障，这时利用数字万用表测量其电阻电压等可以检测其中某一线路的好坏，但也仅限于这一段线路。

击穿短路：数字表二极管档测量时时间要长，且一直导通，阻值一直为0。

电子元器件检测设备（电子元器件检测及测试方法）

1、ICP发射光谱仪即电感耦合等离子体光谱仪，简称ICP光谱仪，ICP发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。ICP发射光谱仪主要应用于无机元素的定性及定量分析。

2、icp直读光谱仪，又名电感耦合等离子体光谱仪，属于光谱仪的一大分支，主要用于检测微量及衡量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属元素，具体的检测元素因为不同厂家采用的核心配件不同而不同，如5代光谱仪就可检测118元素。

3、ICP是一种现代化的元素分析技术，用于测定各种物质中的微量元素。以下是ICP的详细介绍：仪器介绍 ICP（Inductively Coupled Plasma，感应耦合等离子体）是一种高温、高能量的非平衡等离子体，是一种广泛使用的元素分析技术。

4、据此可对样品进行定性分析；而根据待测元素原子的浓度不同，因此发射强度不同，可实现元素的定量测定。icp发射光谱法是根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法。

5、icp光谱仪又名电感耦合等离子体光谱仪，属于光谱仪的一大分支，主要用于检测微量及衡量元素的分析，可分析的元素为大多数的金属元素，具体的检测元素因为不同厂家采用的核心配件不同而不同，如5代光谱仪就可检测118元素。

这样，该仪表可以用于检测电子元器件的击穿电压而不至于损坏电子元器件。需要说明的是，兆欧表表盘刻度不够精细，只能反映被测电子设备绝缘性能的一个粗略电阻值；测量电子元器件耐压时，还需要高阻抗的电压表指示电压值。

家电的范围太宽泛，有的可以使用，有的不可以，摇表电压太高，有电子元件的家电不能使用。

摇表是电工常用的一种测量仪表，主要用来检查电气设备、家用电器或电气线路对地及相间的绝缘电阻，以保证这些设备、电器和线路工作在正常状态，避免发生触电伤亡及设备损坏等事故。

采用2500V摇表。检查摇表0位和无穷大指示良好。测量高压绕组对低压绕组及地的绝缘电阻，将高压绕组三相短路后接至摇表的L端。将低压绕组三相短路接地后接至摇表的E端。

摇表是检查绝缘电阻的，只能检查漏电情况，所有检查必须在断电情况下进行，L端子接待测线，E端子接地或另一根线。