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测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。
这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。
可控硅测量好坏可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。
用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。
检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。
单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。
可控硅测量好坏可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。
1、若保持接通A极或T2极时断开G极，指针立即退回∞位置，则说明可控硅触发电流太大或损坏。可按图2方法进一步测量，对于单向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K灯仍不息灭，否则说明可控硅损坏。
2、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
3、单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
4、单向可控硅用万用表的R乘1欧挡。用红黑笔测任意两引脚间的正反向电阻。找出读书为数十欧姆的一对引脚，其中黑表笔为G极，红表笔为K极，空引脚为A极。
5、可控硅测量好坏可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。
6、测试可控硅的触发能力数字万用 PNP挡，此时 hFE 插口上的两个 带负电，电压为8V。可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K 引线分别插人E 孔，控制极G悬空。 此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示 000。
单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。
用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。
检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。具体方法是：用R×1k或R×10k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
1、惠伦晶体晶振品牌 公司简介：广东惠伦晶体科技股份有限公司成立于2002年（前身东莞惠伦顿堡电子有限公司），是一家专业研发、生产和销售新型表面贴装石英晶体谐振器、振荡器、热敏电阻的国家级高新技术企业。
2、其中，中国大陆企业两家、英国企业两家、美国企业两家、日本企业一家，合计7家。
3、但是娱乐级声卡为了降低成本，通常都采用SRC将输出的采样频率固定在48kHz，但是SRC会对音质带来损害，而且现在的娱乐级声卡都没有很好地解决这个问题。
4、电视机微控制器(CPU)，安防摄像头，高低速带预置位的云台，硬盘录像机，画面分割器，都有微处理器（CPU），一般电表没有，数字电表有微控制器。微控制器需要时钟脉冲。晶振就是产生脉冲的，你想应该很多地方。都离不开。
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1、测量可控硅好坏的方法如下：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
2、用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。
3、检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。
4、正、反向电阻值相等或差异极小。说明可控硅的G、K并不像一般三极管的发射结，有明显的正、反向电阻的差异。这种测量方式是有局限性的，当A、K之间已呈故障开路状态时，则无法测出好坏。
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