可控硅过零检测（可控硅过零检测程序）

发布时间：2023-05-20

阅读量：559

本文目录一览：

1、必须过零检测，可控硅导通以后就不受控制了，关断条件是电流小于最小维持电流。对灯泡来讲也就是过零时刻。

2、可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。

3、检测就用运放构成比较器比较的好；MOC3061中的过零检测主要用于改变双向可控硅G极上触发脉冲的极性，双向可控硅导通方向就随着极性的变化而改变，从而能够控制交流电负载。

4、因为可控硅属于非自关断器件。其触发导通后仍然保持导通（虽然触发信号已经消失），关断的条件是通过其电流接近于零。过零光耦，其内部含过零检测，当有输入时，只有发生过零时刻才输出。

可控硅过零检测（可控硅过零检测程序）

1、日常中我们未发现问题是因为所使用的电器功率相对偏小的，还不会出大问题，但是其所产生的电磁干扰就一直存在，尤其是可控硅开关，还周期性地随意通断，制造电磁污染；所以过零检测的意义和作用就在于此。

2、MOC3061芯片在加有控制信号的情况下，其输出端是过零点导通的；因此在无其他特别需要时，可以略去另外构造加过零检测电路。

3、第二。你触发一次，只能保证交流接通半个周期，至交流电压再次过零的时候会关断。所以你必须施加恒定的触发信号或者保证每10毫秒同步地触发MOC3041。---也就是说，这个MOC3041，不具备像寄存器或者D触发器那样的保持功能。

4、三极管集电极通过上拉电阻R4，形成高电平。这样通过三极管的反复导通、截止，在芯片过零检测端口D点形成100Hz脉冲波形，芯片通过判断，检测电压的零点。可作开关电路或者频率检测。漏电开关的漏电检测是检测零序电流。

5、过零检测常用在大功率晶闸管控制电路中。假如没有控制，电源电压刚好到达最大值时电路被切断或被接通，对负载的冲击很大，大功率负载更严重。

1、全波导通—可控硅触发以后，整个波形就是正弦波，在示波器上就是一条正弦曲线。

2、过零检测的目的是为了减小对电网的干扰。MOC3021是即时触发的，不带过零检测，使用这种光耦触发可控硅，在开启的瞬间，电流冲击会在电网上形成一个负跳变，幅度由电流的大小决定。这种跳变多了，电网自然就不干净了。

3、电位器RV2调整可控硅(TRIAC)的相位角，当VC3超过DIAC的击穿电压时，可控硅会导通。当可控硅电流降到其维持电流(Iholding)以下时(如下图2)，可控硅关断，且必须等到C3在下个半周期重新充电后才能再次导通。

4、单向可控硅只有正半波导通，全导通也相当于二极管，白炽灯实际消耗的功率的关系是1/4。角度为90度时为1/8。