电阻探针（电阻探针的测量原理）

发布时间：2023-08-26

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1、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

2、四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要校准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。

3、四探针法测量电阻率有个非常大的优点，它不需要较准；有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。

测量接地电阻时，电位探针应接在距接地端（）m的地方。

米。测量接地电阻时，供电局装设接地线的接地探针的标准完形式，是电位探针应接在距接地端20米的地方。电流极放线长度为地网对角线的2~4倍，电压极为电流极放线长度的一半。

测量接地电阻时，电位探针应接在距接地端20米的地方。

接地电阻测量仪探针位置--向着同一方向延伸的说法是正确的。

1、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

2、方块电阻就是表面电阻率。可以四探针法直接测试薄膜的表面电阻率。计算公式：方块电阻（或表面电阻率）R = 532 V / I 。其中，V 是探针2-3 间的电位差；I 是探针1-4 间的电流。

3、四探针直接测得的是表面电阻（率），俗称方块电阻，这比万用表准些。万用表直接测得的是电阻，要换算电阻率还要其他参数。四探针是基于四电极法，四电极法的最大特点是可以消除探针和待测物质之间的接触电阻。两电极不行。

4、四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

电阻探针（电阻探针的测量原理）

1、四探针测试技术，简称为四探针法，是测量半导体电阻率最常用的一种方法。

2、四探针电阻测试仪：用于测量物质的电阻主机采用世界领先的先进电路设计，所测数值更精、更快、更准（一代为传统式电路，缺点：体积大，速度慢，元器件繁多导致影响机器寿命）。

3、四探针方块电阻（又叫薄膜电阻）测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一，用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻，同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。

4、四探针电阻率测试仪也有很多种，例如高温的或者常温的，不同的四探针电阻率测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。