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1、四探针测试技术,简称为四探针法,是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
2、四探针法通常用来测量半导体的电阻率。四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要校准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准。
3、四探针法测量电阻率有个非常大的优点,它不需要较准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法较准。
测量接地电阻时,电位探针应接在距接地端()m的地方。
米。测量接地电阻时,供电局装设接地线的接地探针的标准完形式,是电位探针应接在距接地端20米的地方。电流极放线长度为地网对角线的2~4倍,电压极为电流极放线长度的一半。
测量接地电阻时,电位探针应接在距接地端20米的地方。
接地电阻测量仪探针位置--向着同一方向延伸的说法是正确的。
1、四探针测试技术,简称为四探针法,是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
2、方块电阻就是表面电阻率。可以四探针法直接测试薄膜的表面电阻率。计算公式:方块电阻(或表面电阻率)R = 532 V / I 。其中,V 是探针2-3 间的电位差;I 是探针1-4 间的电流。
3、四探针直接测得的是表面电阻(率),俗称方块电阻,这比万用表准些。万用表直接测得的是电阻,要换算电阻率还要其他参数。四探针是基于四电极法,四电极法的最大特点是可以消除探针和待测物质之间的接触电阻。两电极不行。
4、四探针方块电阻(又叫薄膜电阻)测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一,用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻,同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。
1、四探针测试技术,简称为四探针法,是测量半导体电阻率最常用的一种方法。
2、四探针电阻测试仪:用于测量物质的电阻主机采用世界领先的先进电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。
3、四探针方块电阻(又叫薄膜电阻)测试仪是半导体制造中常用的检测仪器之一,用以测量半导体材料的电阻率和薄膜的方块电阻,同时达到测量半导体薄层材料的掺杂浓度和薄膜厚度、控制器件和集成电路性能的目的。
4、四探针电阻率测试仪也有很多种,例如高温的或者常温的,不同的四探针电阻率测试仪针对不同的材料测量的参数也是不同的。
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