电容介损（电容介损偏大的原因）

发布时间：2023-09-05

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1、关系：电压和电流的相位差取决于负载的性质，纯电阻负载电压和电流同相位。电流相位是反映交流电任何时刻的状态的物理量。交流电的大小和方向是随时间变化的。比如正弦交流电流，它的公式是i=Isin2πft。

2、关系：电压和电流的相位差取决于负载的性质：纯电阻负载电压和电流同相位。纯电容负载电流超前电压90度。电阻和电容组成的负载电流超前电压0--90度。纯电感负载电流滞后电压90度。电阻和电感组成的负载电流滞后电压0--90度。

3、介质损耗因数的定义如下：如果取得试品的电流相量和电压相量，则可以得到如下相量图：总电流可以分解为电容电流Ic和电阻电流IR合成，因此：这正是损失角δ=(90°-Φ)的正切值。

4、电容的电压和电流之间的关系为：I = C * dV/dt。设电压、电流为时间函数，现在拦穗模求其电压、电流关系。当极板间的电压变化时，极板上的电荷也之变化，于是在简缓电容元件中产生了电流。

5、电容电压与电流是相同频率的正弦量，而且电流相位越前电压。电容元件电压电流关系的相量形式为：或者电路理论中，包括电气工程和电子信息工程等给出的相量的定义是恒定频率下的量，是复数，对应复数空间。

电容介损（电容介损偏大的原因）

介电损耗主要有以下形式： 1)漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。

按温度系数，介电常数不同可分为负温度系数、正温度系数、零温度系数、高介电常数、低介电常数等。此外，还有I型、II型、III型的分类方法。

它的特点是体积小，耐热性好、损耗小、绝缘电阻高，但容量小，适宜用于高频电路。陶瓷电容薄膜电容结构和纸介电容相同，介质是涤纶或者聚苯乙烯。

1、根据电容量可以计算出R1和R2，然后计算阻性电流和容性电流。就求出来了。

2、外接法，也就是自激法。通过外加电压给压互，电压加到dadn上。这时就要选择外接升压器。其余同上。

3、不同的介损测试仪可能会稍有差别。正确接线：首先拆除互感器高压A端、低压1a、1n、2a、2n、da、dn的对外连线，并将1n、2n可靠接地，将N与E端之间的保护间隙调到最大或拆除（但需做好位置记号，以便恢复。

4、该仪器还可以测试全密封的CVT（电容式电压互感器）CC2的介损和电容量，实现了CC2的同时测试。该仪器还可以测试CVT变比和电压角差。高速采样信号仪器内部的逆变器和采样电路全部由数字化控制，输出电压连续可调。

5、由电容分压器（包括主电容器C1，分压电容器C2）、中间变压器（即中间电压互感器TV）、共振电抗器L载波阻抗器L2及阻尼电阻器R等元件组成。其介质损耗角tgδ值的测试，可分单元件试验。

6、传统的串联法介损试验，是将电压互感器和串联电容连接到测试电路中，通过调整串联电容的容值，使得电压互感器等效于一个电路，从而进行介损测试。

过去介质损耗角的测量采用模拟测量方法，主要有谐振法、瓦特表法和电桥法，谐振法只适用于低压高频状态下的测量。瓦特表法是由介质损失的功率和经过的电流计算求得，瓦特表法由于测量准确度低，现已基本淘汰。

用电压档检测。用数字万用表直流电压档检测电容器，实际上是一种间接测量法，此法可测量220pF～1μF的小容量电容器，并且能精确测出电容器漏电流的大小。电容梗概：电容是指容纳电场的能力。

电容测好坏的方法如下：可以接入交流电来检测。用220v交流电接上，先接一极，用另一条电源线碰触另一个电容，如果产生明显的不大的火花，就可以肯定此电容有充电，没有损坏。用指针式万用表或数字表的测电容档。