怎么测试可控硅（怎么测试可控硅坏没坏?）

发布时间：2023-09-05

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单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

判断可控硅的好与坏最简单的方法：用万用表判断时先将万用表的两只表笔接可控硅的两个端面，电阻应呈无穷大（表针基本不动），再将表笔反过来亦如此。若这两步测量时电阻很小，则说明该可控已损坏。

可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

双向可控硅的好坏可以用数字万用表或等效工具进行测量。首先需要将测试电路搭建好，并且开关处于关闭状态。然后将数字万用表转换为电阻测量模式，将其测试笔分别连接到双向可控硅的两端，记录下测试读数。

单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不息灭。然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。否则说明该器件已损坏。

DIP4管脚型ZC三端双向可控硅光电耦合器利用万用表RXl档判定双向可控硅电极的方法，同时还检查触发能力。判定T2极G极与T1极靠近，距T2极较远。因此，G—T1之间的正、反向电阻都很小。

怎么测试可控硅（怎么测试可控硅坏没坏?）

单向可控硅测量好坏方法如下：万用表选电阻R*1Q挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

单向可控硅用万用表的R乘1欧挡。用红黑笔测任意两引脚间的正反向电阻。找出读书为数十欧姆的一对引脚，其中黑表笔为G极，红表笔为K极，空引脚为A极。

1、可根据判断可控硅控制极（G）与阴极（K或A2）性能的来判断。根据被检测晶闸管的功率大小，将万用表置于合适的电阻档，小功率的选择×10；大功率选择×100。短接两表笔较表，较对万用表指针在“0”的位置。

2、单向可控硅用万用表测量好坏用电阻x1k档，正、反向测量A、K之间的电阻值，均接近无穷大；用电阻x10Ω档测量G、K之间的电阻，从十几欧姆至百欧姆，功率越大欧姆值越小。正、反向电阻值相等或差异极小。

3、单向可控硅的检测。万用表选电阻R*1Ω 挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。

4、反向测量，对调万用表红、黑表笔测量可控硅两个主电极，黑表笔再触碰一下可控硅控制极一下再离开，可控硅被触发导通---测量过程同第1次，只是调换了可控硅两个主电极的方向测量了可控硅反向导通和维持导通的能力。

5、双向可控硅的好坏可以用数字万用表或等效工具进行测量。首先需要将测试电路搭建好，并且开关处于关闭状态。然后将数字万用表转换为电阻测量模式，将其测试笔分别连接到双向可控硅的两端，记录下测试读数。

6、红表笔为K极，空引脚为A极。检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。

检测双向可控硅同单向可控硅，找出数十欧姆的两个引脚，其为A1或者G极，空引脚为A2极。认真测量量引脚间的正反向电阻，读书较小的一次，黑笔接A1极，红笔接G极。