提高光耦速度（光耦上升时间）

发布时间：2023-09-06

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三极管输出类型的光耦；高速输出类型的光耦；逻辑IC输出类型的光耦；可控硅输出类型的光耦；继电器输出类型的光耦光耦是由三部分组成，就是“光的发射、光的接收及信号放大。

反向电流IR：在被测管两端加规定反向工作电压VR时，二极管中流过的电流。反向击穿电压VBR：被测管通过的反向电流IR为规定值时，在两极间所产生的电压降。

指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。光电效应判断法仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路如图2所示。

光耦的型号和参数取决于其所需的特定应用和性能要求，通常包括输入和输出电流、最大耐压、响应时间和工作温度等。常见的光耦型号包括二极管型、晶体管型和集成电路型等。

1、三极管输出类型的光耦；高速输出类型的光耦；逻辑IC输出类型的光耦；可控硅输出类型的光耦；继电器输出类型的光耦光耦是由三部分组成，就是“光的发射、光的接收及信号放大。

2、常见的光耦： TLP521-1 ， TLP521-2，TLP521-4，分别是1个光耦、2个光耦和4个光耦。HP公司和日本的东芝公司生产。

3、可控硅型光耦还有一种光耦是可控硅型光耦。

4、可以互相代替。TLP521是可以完全替代817和2501，后两个不能完全替代521，要求不严的一些消费类电源上，还有智能电表上这几个都是一样用的。

5、推荐采用线性光耦合器，其特点是CTR值能够在一定范围内做线性调整。

在以前对直阻的测量均采用QJ44双臂电桥来测量，而这类电桥的测量电流为毫安级，测量起来时间需要很长，而且精度也较低。为了改变这种状况，缩短测量时间以及减轻测试人员的工作负担，从而开发了直流电阻快速测试仪。

直流电阻快速测试仪是测量电力变压器、大型电机、互感器等各种感性负载的直流电阻及低压开关接触电阻、电线电缆或焊缝接口电阻的理想仪器。

直流电阻测试仪有什么特性？测试速度快：该仪器最大输出充电电流可达1A，可有效补偿大电感设备的电流惯性，加速测量时铁芯的饱和，从而缩短充电时间，提高测试速度，比传统仪器单臂电桥、双臂电桥快数百倍。

为了改变这种状况，缩短测量时间以及减轻测试人员的工作负担，本公司开发了直流电阻快速测试仪。ED0204-40型变压器直流电阻测试仪采用全新电源技术，具有测量迅速、体积小巧、使用方便、测量精度高等特点。

直流快速电阻测试仪(微欧计)是取代直流单臂电桥和双臂电桥的高精度换代产品。DC电阻快速测试仪采用先进的开关电源技术，测量结果由点阵液晶显示。

提高光耦速度（光耦上升时间）

1、电流传输比CTR：输出管的工作电压为规定值时，输出电流和发光二极管正向电流之比为电流传输比CTR。

2、结合电路设计的实际要求，就要选择单芯片集成多路光耦的器件。(2)光耦合器的电流传输比(CTR)的允许范围是不小于500%。

3、光耦的技术参数主要包括LED正向压降VF、正向电流IF、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO、集电极-发射极饱和电压VCE(sat)。

4、光耦合器的技术参数主要有发光二极管正向压降VF、正向电流IF、电流传输比CTR、输入级与输出级之间的绝缘电阻、集电极-发射极反向击穿电压V(BR)CEO、集电极-发射极饱和压降VCE(sat)。